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  • 电子束曝光设备

    可曝光片源参数直径从几毫米到3英寸、厚度达35毫米的零件以及6英寸掩模板。该仪器可配备基板支架,以处理高达200毫米的晶片。

  • 光刻 LDW 350/ LDW 500 Mask Writer 制版光刻机

    LDW 350/ 500 Mask Writer为基于130nm制版节点而研制的直写光刻设备,该设备基于先进的DLP数字光刻技术,采用高精度的精密运动系统、光学系统、微环境控制系统,同时具备实时聚焦、自动居中对位等功能,该设备可应用于制版、MEMS制造、物联网、移动设备、LED等领域。

  • 薄膜段 牛津仪器 PlasmaPro 100 PECVD

    样品尺寸8inch及以下设备类型等离子增强化学气相沉积(PECVD)可生长薄膜SiO₂、SiNₓ最高工艺温度350℃薄膜均匀性

  • 薄膜段 牛津仪器 PlasmaPro 100 Cobra ICPCVD

    样品尺寸最大200mm(8inch)设备类型电感耦合等离子体CVD(ICPCVD)电极尺寸240mm晶圆台温控范围20~400℃/0~400℃电极温度范围5℃~

  • 薄膜段 北方华创 HORIC L6431 LPCVD

    样品尺寸6inch圆硅片,兼容4inch设备类型低压化学气相沉积(LPCVD)炉管配置四管卧式LPCVD系统可沉积薄膜TEOS(SiO₂)、Poly-Si、Si

  • 薄膜段 RIBER MBE 412 Cluster

    衬底尺寸2 ~4inch设备类型分子束外延(MBE)源炉数量12个源炉源炉材料Ga、In、Al、As、Sb、P、Bi、Si、Mg、掺杂等本底真空度5&

  • 薄膜段 Beneq TFS 200 ALD

    样品尺寸8inch及以下,兼容三维/多孔/高深宽比结构设备类型原子层沉积(ALD)沉积模式热型ALD+等离子体增强型ALD(PEALD)工艺温度范围RT~400

  • 薄膜段 AIXTRON CCS 3×2 Ga₂O₃ MOCVD

    衬底尺寸2inch及以下设备类型金属有机物化学气相沉积(MOCVD)反应室配置CCS3×2紧密耦合喷淋头式生长材料Ga₂O₃、GaN、InP、GaA

  • 刻蚀段 北方华创 GSE C200

    样品尺寸8inch及以下 8inch及以下 TableTEMP -20~40℃ SRFPower 0-2500

  • 刻蚀段 北方华创 HSE M200

    样品尺寸8inch及以下 8inch及以下 TableTEMP -20~40℃ SRFPower 400-25

  • 刻蚀段 北方华创 GDE C200

    样品尺寸8inch及以下 6inch及以下 TableTEMP -20~40℃ SRFPower 0-2200